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賽默飛（原FEI）Apreo場發射掃描電子顯微鏡圖片
本圖片來自賽默飛世爾科技電子顯微鏡提供的賽默飛（原FEI）Apreo場發射掃描電子顯微鏡，型號為的光學儀器及設備，產地為捷克，屬于品牌，參考價格為面議，公司還可為用戶供應高品質的Prisma E SEM、賽默飛（原FEI) Scios DualBeam雙束電子顯微鏡等產品。賽默飛世爾科技電子顯微鏡是中國粉體網的會員，合作關系長達2年，工商信息已通過人工核驗，獲得粉享通誠信認證，請放心選擇！
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賽默飛世爾科技電子顯微鏡
會員2年
營業執照已認證
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