Microtech-太赫茲光譜儀

太赫茲光譜測量系統

美國Microtech Instruments Inc.擁有十幾年的THz相關實驗設備研發和生產經驗，擁有齊全的THz實驗零組件產品線，可為您提供BWO系統、THz光學元件、THz透射/反射/干涉光譜系統和THz成像系統。

Microtech Instruments可提供整套的

-THz透射光譜系統

-THz反射光譜系統

-THz馬赫—曾德干涉光譜系統

成像系統

光柵掃描成像系統

Microtech太赫茲成像儀使用了和透射光譜系統相似的光學配置，但是使用了線性平臺用于支撐和移動在太赫茲光速焦點中的物體。中心焦點提供了高分辨率的hte成像儀和提供了高動態范圍，通過物體在小點聚焦整個信號。

關鍵特征包括：

- 可以結合BWO和TPO源使用

- 附帶軟件操作簡單、方便

- 是無損評估的理想工具

T-Vision：視頻流成像系統

T-Vision成像系統為需要高幀率的成像應用提供了**的解決方案。T-Vision成像系統是一套完整的集成系統，集成了我們的TPO發生器和成像元件。成像是基于無線性進程，進程中hte太赫茲圖像是混合了近紅外脈沖，產生一個向上轉換的近紅外圖像用于和CMOS相機探測使用。該系統可根據客戶具體需求客制化。用戶可根據具體的應用需求自行搭建不同的基于BWO返波管的THz光譜系統。

太赫茲光譜系統

緊湊型太赫茲光譜測量系統

美國Microtech Instruments公司的緊湊型的太赫茲測量光譜系統提供了光譜范圍為100 GHz 到1.5 THz.的透射測量。這些系統是基于毫米波回波振蕩器(BWO's)結合頻率倍頻器和寬波段熱電探測器。

太赫茲光譜系統提供了高分辨率光譜范圍從180 GHz 到1.42 THz的光譜測量。這些系統運用了頻率可調諧回波振蕩器(BWOs)作為太赫茲輻射源和戈利細胞探測器。

主要特點包括：

- 光譜范圍：100 GHz - 1.5 THz

- 光譜分辨率：1 - 10 MHz

- 動態范圍：10^4

太赫茲透射光譜系統

使用透射光譜系統進行透射測量是對完全透明的材料進行特征分析的**的工具和方法。特別地，平面平行板的透射光譜由于干涉(Fabry-Perot etalon fringes)的原因表現出周期性的透射模式。可通過這些測量決定介電常數實部和虛部，因為校準器邊緣的周期和振幅分別決定了材料折射指數和吸收度。

對半透明的材料進行特征分析則需要使用太赫茲馬赫—曾德干涉光譜系統，這是因為這樣的材料透射光譜中無法觀察到校準邊緣。馬赫—曾德裝置保證了樣本作為頻率函數所引發的相位偏移測量。結合分析這個數據和透射光譜，可計算出介電常數實部和虛部。

馬赫—曾德干涉光譜系統

對半透明的材料進行特征分析則需要使用太赫茲馬赫—曾德干涉光譜系統，這是因為這樣的材料透射光譜中無法觀察到校準邊緣。馬赫—曾德裝置保證了樣本作為頻率函數所引發的相位偏移測量。結合分析這個數據和透射光譜，可計算出介電常數實部和虛部。

對全吸收的材料進行特征分析只可以通過反射幾何。

太赫茲反射光譜系統

不透明材料的特征分析需要反射光譜系統。這是因為透射信號太弱以致不能進行特征分析。系統使用6軸控制來測量反射信號。通過這個透射和相位光譜系統的折射指數，可從軟件的理論擬合能力快速計算出吸收系數和介電常數實部和虛部。

透射、馬赫—曾德和反射光譜系統都是使用了TScan軟件，保證了自動數據采集和分析。一個光譜掃描花費1-5分鐘對于系統中運用的每個BWOs。