Microvision SS420 視角測試儀

美國Microvision System成立于1993年，是全球顯示器測試系統的主要供應商，可以檢測FPD CRT，PLASMA， HDTV， OLED， HUD， HDD投影機等，應用于R&D， QC及工業測試。Microvision System以技術先進的產品及完善的售后服務，贏得用戶的尊敬。

系統功能說明：

Microvision顯示器測量系統可選擇兩種取樣探頭SS410及SS420，使用一組抵用平臺和控制電腦，經由專業控制軟件，進行顯示器光學特性的自動測量和分析。

SS420顯示屏測量系統

自動測試特征離軸性能

自動測試平臺

- TCO顯示屏6.0和TCO筆記本

- ISO 9241-307平板規格

- VESA FPDM 2.0

- 用戶定義測試平臺

光像分析

- 亮度/對比度vs視角

- 亮度均勻度

- 對比度圖

- 伽馬圖

- 反射測量

亮度分析

- 亮度vs視角

- 色彩均勻度

- 相關色溫

- 色差

- CIE色度圖

時域分析（選項）

- 灰階轉換時間

- 響應時間

- 閃光

- 動態模糊和MPRT

3D分析

眼鏡測量

消光系數

串擾/重影

系統簡介：

SS420平板顯示屏測量系統是一款專業性系統，可自動分析所有類型的平板和投影顯示屏的圖像質量。SS420系統是一款基于電腦的測量系統，采用了收集離軸數據的測角方法。SS420系統是一款全集成系統，操作簡單、靈活，是一款自動化測試平臺。

采用了衍射光柵光譜儀，可實現精準的亮度和色度測量，無需彩色濾鏡和減去了濾鏡匹配的麻煩。一個單光纖纜線搭配準直光學和光譜儀。機械定位器實現了在測試環境下可移動探測器到面板上任何位置，同時測角裝配提供了離軸測量的功能。石英消偏器消除了偏振的效果。

在常規的操作模式中，定位系統可移動光譜儀到所要的測量位置在垂直方向定位的顯示屏（可選擇水平安裝）。顯示屏面板的模式和顏色驅動來自于模式發生器。鼠標的單次點擊可實現多種預編程測試或者測試平臺可生成測量數據的報告。

系統組件：

機械定位系統

Microvision定位系統提供了水平方向(X)、垂直方向(Y)和縱向方向(Z)軸的移動以及全集成了驅動電子、電源和包括在平臺水平位置的接口。定位系統通過軟件的控制或者操作鼠標和鍵盤實現自動化操作。

SS420系統包括了測角組件裝配在基本定位系統，提供了在傾角和方位角的軸線中的自動化離軸移動。數字采集的階梯增量相當靈活以及用戶編程化。

系統軟件

SS420系統適用于Win7操作系統，因為在Win7操作系統中GUI可允許系統的易點和點擊操作和控制。GUI使得軟件操作直觀以及提供了完成一系列的顯示屏分析和測量的功能。測量數據以文本文件和CSV文檔報告生成，以及全彩色圖的形式展示以便更簡單地解釋結果數據。

光學

SS420光學系統包括了一個12mm準直鏡頭和一個石英消偏器。鏡頭收集了準直接光束從顯示器表面發出和石英消偏器消除了在測試環境下面板中偏振光的效果。光學系統把光束匯聚單個元素光纖纜線連接到光譜儀。光學系統安裝在測角組件提供了離軸測量。光學系統的接受角度可進行調整從而適用于各行各業的應用領域。一般而言，光學系統的接受角度設定為1.5度。中性密度濾光鏡有50%，25%，10%和1%以及一個5mm標準孔徑提供。

計算機系統

SS420系統集成了***的電腦，提供了全部系統組件的控制。可選擇標準的臺式電腦或者筆記本。

光譜儀

SS420系統是配置了非常高分辨率，多元素，溫度控制衍射光柵光譜儀。儀器校準到NIST可追溯標準以及通過使用計算機控制傳感穩定溫度進行校準。光譜儀提供了亮度和色度的測量，同時可測量整個可見光譜（380nm-780nm）中的頻譜圖。可選擇近紅外NIR。光纖組件纜線設定了光從測量表面發出到光譜儀的路徑。由此產生的光譜會成像于2048元素CCD探測器以及數據會通過一個16位元A/D轉換器轉換到計算機

SS420系統規格參數

衍射光柵光譜儀

測角儀規格參數：

分辨率

傾角:0.1° steps up to 85°

方位角：1.0° steps up to 360°