顯微拉曼熒光壽命成像系統

德國S&I GmbH成立于1995年，是一家專門從事科研級拉曼光譜分析設備的制造公司，也是美國普林斯頓儀器（Princeton Instruments）在歐洲的OEM客戶，其設備以優異的靈活性，高靈敏及易操作性著稱。

MonoVista CRS+系列產品定位：服務于科學研究的強大“光譜成像綜合分析平臺”。

l S&I公司擅長于提供各種科研級定制化的解決方案；

l 根據用戶的應用需求，適用并可拓展不同的配置；

l 在保證系統自動控制與高可靠性情況下，適合各種光學測試；

l 顯微拉曼光譜 /顯微熒光 / 熒光壽命TCSPC成像/

l 變溫紅外光譜 / 時間分辨光譜 / 暗場光譜/

l 適用高壓科學研究要求的開放式測試環境，如大樣品系統，低溫，強磁，高溫等。

l Monovista CRS+系統是基于共聚焦顯微鏡設計的多功能光譜成像分析系統；

l 應用領域：高壓科學材料，半導體材料特性，碳納米材料，鈣鈦礦材料，生物細胞研究等

MonoVista CRS+ 特點：

·激光器深紫外到近紅外波長范圍

·多達內置4個波長激光器，

·外置外接大型激光器

·紫外和可見光/近紅外雙光束路徑

·自動控制激光選擇

·自動對準，聚焦和校準功能

·超高拉曼光譜分辨率 ＜0.9cm^-1 @ 633 nm

·低波數拉曼，可測試到 +/- 10 cm^-1

·高波數范圍: 9000cm-1（@ 532nm）

·熱電制冷和液氮制冷探測器

·正置/倒置/雙顯微鏡

·空間分辨率：XY 1um; Z 2um

·步進電機和壓電驅動XYZ位移臺

·快速3D拉曼Mapping

·熒光壽命成像Mapping功能

·集成控制液氮溫度冷熱臺

·集成液氦溫度低溫恒溫器

·可結合拉曼成像和原子力顯微鏡成像

·自動控制的偏振光譜功能

L-Crystine的超低波數拉曼（正反斯托克斯）

CCL4的超高拉曼分辨率

TCSPC熒光壽命測試功能

2 激光波長從375納米到810納米

2 時間通道數：65536 ，分辨精度：4ps

2 各通道采集延時調節范圍 ：± 100 ns，

2 壽命時間抖動誤差：<12ps

2 **計數率：10MHz; **同步率：84 MHz

2 多種探測器選項，探測器通道：2個

2 二維壽命成像，XY掃描壓電位移臺

2 掃描臺，范圍可達幾厘米，XY掃描精度優于500nm

2 固有響應時間：95ns

2 儀器響應函數（IRF）<200ps

熒光壽命測試曲線

熒光壽命Mapping

VistaControl硬件控制界面

拉曼Mapping與顯微圖像對比

MonoVista CRS+ 定制系統應用案例

Monovista顯微光路+宏光路拉曼+AFM

Monovista與低溫，強磁測試條件(HPSTAR)