奧趨光電

推薦標準征求意見！2項AlN晶片相關標準征求意見！

中國粉體網訊 近日，由奧趨光電技術（杭州）有限公司牽頭起草的標準T/CASAS 053—202X《氮化鋁晶片位錯密度檢測方法腐蝕坑密度測量法》、由中國科學院半導體研究所牽頭起草的標準T/CASAS 054—202X《氮化鋁晶[更多]