Semiconsoft MProbe 膜厚測試儀

MProbe 讓 你 成 為 測 量 專 家 ！

大部分半透明的或具有輕微吸收性的薄膜能夠被快速、可靠的測量：氧化物、氮化物、感光耐蝕膜、聚合物、半導體(Si， aSi，polySi)、硬涂層(SiC， DLC)， 聚合物涂料 (聚對二甲苯，PMMA，聚酰胺)， 薄金屬薄膜等。

厚度和其他參數的均勻性測量對于許多應用程序是很重要的。

映射選項包括:

1.XY電動平臺(150，200和300毫米游程)

2.固體19 x19"鋁合金平臺

3.探頭架(反射/透射測量均可)與光學系統

4.調節器

5.支持軟件(映射配方，等等)。