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PHL應力雙折射儀器
PHL PA-micro顯微型應力雙折射儀
PHL應力雙折射儀器簡介：
應力雙折射儀，能夠快速、精準測量雙折射相位差及其空間分布和方向。廣泛應用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質量分析和控制領域。
日本Photonic-lattice成立于1996年，以日本東北大學的光子晶體的研究技術為核心，成立的合資公司，尤其是其光子晶體制造技術**世界，并由此開發出的測量儀器。
PHL應力雙折射儀在顯微鏡下快速測量PA-Micro：
型號 | PA-Micro |
測量范圍 | 0-130nm |
重復性 | <1.0nm |
像素數 | 1120x868 |
測量波長 | 520nm |
尺寸 | 250x487x690mm |
觀測到的**面積 | 5倍物鏡：1.1x0.8mm;10倍物鏡：0.5x0.4mm；20倍物鏡：270x200um;50倍物鏡：110x80um;100倍物鏡：55x40um. |
自身重量 | 11kg |
數據接口 | 千兆以太網（攝像機信號） |
電壓電流 | AC100-240V（50/60Hz） |
軟件 | PA-View（for Micro） |
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