JSM-7100F肖特基場發射掃描電鏡采用通用性強的out-lens式物鏡和High Power Optics（高性能電子光學系統），操作非常方便。

基于用戶友好的SEM可以和具有多種特性的附件組合，如低加速電壓下高分辨率的觀察和分析、異種信號的同時觀察 （TTLS系統）、低真空模式（LV系統）下的觀察和分析、用大視場觀察和分析（LDF系統）等，可以滿足每個用戶的個性化需求。

由于在樣品附近沒有磁場泄漏，對磁性材料樣品的高分辨率觀察和EBSD測試非常有效，是一款對所有材料的形貌觀察及各種分析能發揮威力的多功能掃描電鏡。安裝選配件TTL能獲得更多的樣品信息。此外，配合使用Gentle Beam （GB模式即柔和光束），以數百電子伏的極低能量可以觀察樣品的淺表面。