基于Phasics**的四波橫向剪切干涉技術和高質量的InGaAs探測器，提供了一個高的空間分辨率和靈敏度。確保測量紅外鏡頭和短波紅外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光譜范圍從0.4到1.7μm，這種波前傳感器覆蓋可見光、近紅外和短波紅外區域且不需要任何校準直接進行測量。

SID4-Swir 光學器件測量自適應光學

特點：

由于其獨特的**技術技術，Phasics的SID4-Swir波前傳感器具備以下特點：

1.高分辨率：160x128測量點

2.高靈敏密度：整個光譜范圍內相位噪聲低于2nm

3.消色差：0.4-1.7μm（可擴展到2.4μm）

4.緊湊：易于集成

應用：

透鏡測試：SID4 SWIR波前分析儀實時測量光學元件MTF和畸變。適用于光通信，夜視和其他軍事和監視設備。無色差，SID4 SWIR涵蓋所有光通信波長。

激光束測試：SID4 SWIR也可以短波紅外光源，像1.55μm激光器或用于激光導向系統的LED。

SID4-Swir產品參數：