J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)是ASI公司的技術(shù)團(tuán)隊擁有30多年激光剝蝕技術(shù)的基礎(chǔ)研究經(jīng)驗(yàn)和LA-ICP-MS方法的研究背景，系統(tǒng)通過非熱過程，施加超高激光輻射剝蝕樣品，產(chǎn)生的顆粒能在ICP源完全消解，確保在測量過程中獲取高精度、穩(wěn)定的元素或同位素信號，J200LA-fs剝蝕均勻一致，剝蝕的樣品顆粒能代表樣品的化學(xué)特性，無需高度匹配的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，也能進(jìn)行高精度、定量LA-ICP-MS測量。

設(shè)備特點(diǎn)：

1、測量葉片內(nèi)部不同部位的元素變化情況以及特定元素的分布情況；

2、同步開關(guān)確保穩(wěn)定的ICP-MS等離子體狀態(tài)；

3、兩個相機(jī)提供廣角和放大的樣品圖像和廣角圖像呈現(xiàn)；

4、自動高度調(diào)節(jié)傳感器、樣品室等部件的工作狀態(tài)；

5、系統(tǒng)能完成具有挑戰(zhàn)性的化學(xué)分析工作；

6、確保在測量過程中獲取高精度、穩(wěn)定的元素或同位素信號；

7、剝蝕的樣品顆粒能代表樣品的化學(xué)特性，無需高度匹配的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)。

J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)技術(shù)指標(biāo)：

J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)產(chǎn)生的樣品顆粒均勻一致，且尺寸分布合理，一般在10-200nm，運(yùn)輸效率高，該設(shè)備功能直觀、帶圖形界面，易瀏覽不同的樣品區(qū)域，設(shè)立靈活的采樣方式，用戶簡單、方便地操作硬件部件，只需簡單點(diǎn)擊tab鍵，用戶即可檢查飛秒激光、氣流系統(tǒng)、光模塊、3-D操作臺、自動高度調(diào)節(jié)傳感器、樣品室等部件的工作狀態(tài)，不同用戶組可賦予不同的使用權(quán)限，同步開關(guān)確保穩(wěn)定的ICP-MS等離子體狀態(tài)，防止等離子體火焰噴出。預(yù)設(shè)閥配置可選擇氬氣或氦氣作為載氣或緩沖氣。