技術參數

1、X射線發生器包括MM007HF，FR-X

2、光路單元，Pinhole、2Pinhole、3Pinhole系統可選

3、樣品臺包括，GI-SAXA附件、變溫附件（-150度～400度）、多功能樣品臺、真空、拉升

4、半導體陣列2維探測器HyPix3000/6000

主要特點

**水平的小角度分辨率（Qmin至0.02 nm-1）；

NANOPIX高亮度、高功率X射線光源；

NANOPIX完全自動化并由智能軟件控制，專業而簡便；

NANOPIX支持多種條件下的復雜原位測試；

儀器介紹

Rigaku NANOPIX SAXS / WAXS測量系統是一種為納米結構分析設計的新型X射線散射儀器。NANOPIX可以用于小角散射（SAXS）和廣角散射（WAXS）測量，這使得可以實現從亞納米到納米級（0.1nm到100nm）的多尺度結構測量。使得實驗室SAXS儀器實現了**水平的小角度分辨率（Qmin至0.02 nm-1）。SAXS / WAXS具有廣泛的實驗范圍，NANOPIX可在各種溫度或濕度條件下進行測量，同時進行DSC（差示掃描量熱法）測量，以及與特殊附件或其他外部設備組合進行測量。測量環境的控制對于功能材料的結構-性能關系的研究是必不可少的。

*價格范圍僅供參考，實際價格與配置等若干因素有關。如有需要，請向銷售工程師咨詢。我們講竭盡全力為您制定完善的解決方案。