儀器簡介：

專門針對RoHS/ELV/玩具/包裝/首飾等中有害元素及無鹵化中鹵素的測量

能同時測量Cl/Cr/As/Se/Br/Cd/Sb/Ba/Hg/Pb等元素

DM2300型X熒光分析儀（或稱X熒光光譜儀）(英文名為DM2300 EDXRF Analyzer)是由上海愛斯特電子有限公司集數十年X熒光分析儀的研究經驗，在公司原有的DM系列X熒光鈣鐵分析儀、測硫儀、鋁硅分析儀、多元素分析儀等的基礎上研制推出的一種達到國際**的分析儀器。儀器采用了能量色散X射線熒光（Energy Disperse X Ray Fluorescence）（EDXRF）分析技術，能分析從鋁(原子序數13)到鈾(原子序數92)的所有元素，對大多數元素分析的含量可低至1ppm高至100%，還能進行鍍層厚度測量。具有分析速度快、精度高、人為誤差小、操作簡便、只需一次性投資、無污染等特點，故廣泛應用于電子電氣、建材、冶金、石油、化工、地質、礦山等各行各業。

對于RoHS指令、ELV指令、玩具、包裝、首飾等中有害元素及無鹵化中鹵素的測量，目前有多種方法，但絕大部分的測量方法都非常煩瑣，特別是制樣那更是復雜，且時間很長，又污染環境。而X熒光分析法雖然準確度較差，但它分析速度快、操作簡單、無污染、制樣方便或根本無需制樣，能對絕大部分產品作出正確判定，而少量不能判定的產品再用其他方法，從而達到先篩選的目的，使測量方便了許多。所以X熒光分析法作為RoHS指令、ELV指令、玩具、包裝、首飾等中有害元素及無鹵化中鹵素測量的篩選法，得到全世界所有國家的確認。如我國國家質量監督檢驗檢疫總局*近頒布了六個有關RoHS的檢測方法標準，其**個標準就是：SN/T 2003.1-2005 《電子電氣產品中鉛、汞、鎘、鉻、溴的測定 **部分：X射線熒光光譜定性篩選法》。對每一個需要測量RoHS指令、ELV指令、玩具、包裝、首飾等中有害元素及無鹵化中鹵素的單位，X熒光分析儀是不可缺少的。

DM2300型X熒光分析儀是本公司諸多X熒光分析儀中一款專門針對RoHS指令、ELV指令、玩具、包裝、首飾等中有害元素及無鹵化中鹵素的測量而設計開發的產品。它采用X光管激發，光管高壓的電壓和電流連續可調，具有多個濾色片和準直器并可自動轉換，能使儀器達到**的激發效率、**的計數率和**的峰背比，從而有極高的精度和很小的檢出限；它采用高分辨率的PIN半導體探測器，有效避免元素的相互干擾；它采用內標方法及具有自主知識產權的分譜技術，在無標準樣品時亦可準確分析樣品；它的樣品室體積達480 mm×350 mm×125mm，能測量大件物品；它的設計對屏蔽防護極好，無三廢公害；其測量準確度及檢出限達到進口同類儀器的水平，而價格只是進口同類儀器的幾分之一，特別適合我國國情。

憑借著本公司數十年X熒光分析儀的研究經驗，憑借著本公司數十年在X熒光分析領域的良好口碑和重要地位，我們相信：DM2300型X熒光分析儀定將得到廣大需要測量RoHS指令、ELV指令、玩具、包裝、首飾等中有害元素及無鹵化中鹵素的單位的認可，成為國外同類產品的替代品，為我國的檢測事業和環境保護作出一定的貢獻。

技術參數：

(1) 分析元素種類：Cl氯、鉻Cr、砷As、硒Se、溴Br、鎘Cd、銻Sb、鋇Ba、汞Hg、鉛Pb等。

(2) 有害元素及鹵素含量分析范圍： 5～3000ppm。

(3) 系統分析時間： 300s (典型值)。

(4) 分析精度： 理想狀態下，測量**精度為2～3ppm；

一般狀態下，測量相對誤差為10%。

(5) 檢出限： ≤2 ppm。

(6) X射線光管： 高壓：≤50kV， 電流：≤1mA，均連續可調。

(7) 準直器： Ф1mm、Ф3mm、Ф5mm、Ф7mm共4個可自動切換。

(8) 系統能量分辯率： 對于MnK5.9keV的X射線，其半高寬：≤155 eV。

(9) 長時間穩定性： 開機1小時后，整機8小時穩定性：峰位和峰面積相對標準偏差均小于0.1%。

(10) 樣品室體積： 長×寬×高：480 mm×350 mm×125mm。

(11) 使用條件： 環境濕度：5～30℃，相對濕度≤80%(25℃)，供電電源：220±20V，50Hz。

(12) 整機功耗： ≤150W。

(13) 尺寸與重量： 長×寬×高：503 mm×412 mm×478mm；重量：45Kg。

主要特點：

(1) 采用EDXRF物理分析方法，分析中不接觸、不破壞樣品，無需化學試劑等其他輔助材料。

(2) 多元素同時快速分析，一般幾分鐘給出Cl氯、鉻Cr、砷As、硒Se、溴Br、鎘Cd、銻Sb、鋇Ba、汞Hg、鉛Pb等元素的ppm含量結果。

(3) 采用X光管激發，光管高壓的電壓和電流可調，使儀器達到**的激發效率和**的計數率。。

(4) 具有4個濾色片和4個準直器，可任意自動轉換組合，使儀器達到**的計數率和**的峰背比，從而有極高的精度和很小的檢出限。

(5) 采用高分辨率的PIN半導體探測器，有效避免元素的相互干擾。

(6) 采用高分辨率的CCD攝像頭，樣品平臺可移動，從而保證測量目標位置的準確。

(7) 由計算機進行顯示、操作和數據處理，從而使操作簡便，分析快速準確。

(8) 儀器集成化程度高，可靠性好，維修方便。環境適應能力強，長期穩定性好。

(9) 采用內標方法及具有自主知識產權的分譜技術，在無標準樣品時亦可準確分析樣品。

(10) 樣品室體積大，能測量大件物品。

(11) 價格功能比低，適合我國國情。

(12) 設計對屏蔽防護極好，無三廢公害，射線防護安全可靠。