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SPTM-1000系統可同時測量二位的塞貝克系數和導熱系數，分辨率可達20μm。
應用：
1. 簡單測量熱電材料的性質；
2. 測量功能梯度材料熱性質分布；
3. 測量無機材料、高分子材料和晶體材料的同質性；
4. 評估材料的缺陷（印刷基板，多層基板等）；
特點：
分辨率可達20um；
使用參照材料可校準熱導率的精度；
設備參數：
型號： | SPTM-1000 |
測試內容： | 塞貝克系數，導熱系數 |
局部分辨率： | 20μm |
溫度范圍： | 室溫±5℃ |
樣品尺寸： | Max. 20 mm square x 5 mm thickness |
測試氣氛： | 空氣 |
實例:
(Bi1-xSbx) 2Te3(0.5<x<1) ：塞貝克系數、導熱系數分布、不同組分的塞貝克系數、導熱系數；
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