Microtrac MRB將聯合旗下麥奇克激光粒度粒形分析儀，拜爾比表面及孔隙度分析儀和化學吸附儀，麥奇克萊馳多功能粒度粒形分析儀，首次在中國西安舉辦“顆粒表征方法的技術研討會”。

本次會議將于2021年5月19日在西安舉行，屆時將由應用專家與大家共同探討顆粒表征分析技術及應用。

Microtrac MRB：作為一個顆粒表征解決方案的供應商，提供三條產品線，在三大洲擁有研發和技術中心。

散射光分折: Microtrac MRB作為粒度測量的通用方法—靜態激光衍射法的領導者，還提供完美的動態光散射納米粒度儀，用于納米顆粒的表征。該產品線的開發和生產地點位于美國的賓夕法尼亞州。

圖像分析: Microtrac MRB基于動態圖像分析技術，為顆粒大小和形態的測定提供了高質量的CAMSIZER系列和PartAn系列測量系統。這些圖像分析儀的開發和生產地點位于德國的哈恩。

比表面和孔徑測量: Microtrac MRB的另外一條產品線采用氣體吸附法為粉體樣品的比表面值，BET值和孔徑測量提供了吸附系列的分析儀器。開發和生產以及裝配地點位于日本大阪的表面分析中心。

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