許多微孔材料（例如分子篩，活性炭等。）在進行自由空間測量時，由于暴露在He 氣中幾個小時，會將He 捕捉并保存在它們復雜的孔結構中，最終影響到分析低壓區數據，在低壓區出現S 型曲線。本文針對這種情況，給出了相應的解決方案，不僅羅列出相應的注意事項和需要采用的工具，還詳細的描述了測試文件如何編輯和選擇，并進行了舉例說明。