2011年7月19日-7月25日，麥克顆粒表征與技術(shù)系列專題研討會(huì)分別在中山大學(xué)、武漢理工大學(xué)、南京大學(xué)、浙江大學(xué)隆重召開。此次系列研討會(huì)吸引眾多學(xué)校以及研究所教授約200位專家學(xué)者參與了此次大會(huì).

 

 
     研討會(huì)主題為物理吸附與化學(xué)吸附的理論與實(shí)踐，麥克儀器資深專家Jeff Kenvin博士與Jacek Jagiello博士，報(bào)告了物理吸附與化學(xué)吸附基本理論，并與實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)相結(jié)合，引起與會(huì)專家學(xué)者和業(yè)內(nèi)同仁們熱烈的反響和討論。

 

        此次研討會(huì)為顆粒表征與技術(shù)工作者提供了一次寶貴的學(xué)習(xí)、交流平臺(tái)，取得了良好的效果，與會(huì)代表紛紛表示這次研討會(huì)對(duì)他們的工作幫助很大，希望以后能夠繼續(xù)參加類似的活動(dòng)。