在金秋十月收獲的季節(jié)，成都精新JL-5001型在線控制粒度儀創(chuàng)新升級(jí)。10多年前成都精新公司已開(kāi)發(fā)生產(chǎn)出在線控制粒度測(cè)試儀，因粉體黏性、形狀在實(shí)時(shí)檢測(cè)中存在的特殊性，研究團(tuán)隊(duì)經(jīng)過(guò)一年多來(lái)實(shí)地走訪聽(tīng)取用戶建議，并在周定益教授的親自帶領(lǐng)下，根據(jù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的需求對(duì)在線控制粒度儀的反復(fù)改進(jìn)，抽樣管道結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)上采取獨(dú)創(chuàng)抽樣裝置（專利），在線控制粒度儀全新升級(jí)，更適合生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。

JL-5001型在線控制粒度儀實(shí)現(xiàn)了在多條生產(chǎn)線上自動(dòng)取樣，自動(dòng)在線控制與監(jiān)測(cè)，儀器操作使用更加方便，對(duì)降低能耗提高產(chǎn)品質(zhì)量起到不可估量的作用。

測(cè)試原理：散射、衍射原理、全量程米氏（ Mie）散射理論和專有技術(shù)計(jì)算。通過(guò)與生產(chǎn)線控制系統(tǒng)內(nèi)的控制設(shè)備交換信息，運(yùn)行在線控制粒度儀系統(tǒng)。

測(cè)量范圍：0.02μm～2000μm

信號(hào)光源：雙光源設(shè)計(jì)，主激光波長(zhǎng)635nm 50mw半導(dǎo)體激光器；交叉紫光405nm為輔助光源，極大的提高納米顆粒段的分辨率。

探 測(cè) 器：采用大角度大規(guī)模集成電路多元專用探測(cè)器，主通道80級(jí)，輔助通道12級(jí),對(duì)前向、側(cè)向和后向的散射信號(hào)進(jìn)行全方位的探測(cè)。

光斑監(jiān)測(cè)：探測(cè)器中心孔后方設(shè)置圖像探測(cè)系統(tǒng)(專利：200620033868.2)，獲得真實(shí)的實(shí)際光斑。對(duì)光斑的均勻性，形狀，邊緣清晰度，亮度和光軸中心等光斑質(zhì)量的全面的檢測(cè)；全面檢測(cè)到測(cè)試窗口的清潔程度；檢測(cè)到真實(shí)的光斑中心。

測(cè)試精度：集光學(xué)、電路一體化結(jié)構(gòu)。重復(fù)性、穩(wěn)定性達(dá)到國(guó)外同類型儀器測(cè)量水平，D50粒徑重復(fù)性誤差＜3％

測(cè)試方法：自動(dòng)取樣裝置能夠在測(cè)試完成后，由分級(jí)系統(tǒng)的負(fù)壓系統(tǒng)回收，也可以由設(shè)備配置的粉塵分離回收系統(tǒng)回收。自動(dòng)測(cè)試周期為10秒間隔一次（可按需求任意設(shè)置）。

軟件功能: 測(cè)試結(jié)果以當(dāng)次測(cè)試的粒度分布數(shù)據(jù)表格顯示，在線連續(xù)測(cè)試曲線顯示。全面顯示粒度測(cè)試信息。

控制功能：測(cè)試當(dāng)前生產(chǎn)過(guò)程中粉體粒度分布數(shù)據(jù)，生產(chǎn)全過(guò)程的粒度分布數(shù)據(jù)。

測(cè)試結(jié)果：以粒度分布數(shù)據(jù)表格和連續(xù)的曲線圖顯示，同時(shí)提供 D10、D50、D90、D97、體積平均粒徑(D4,3)、面積平均粒徑(D3,2)、自由分布、對(duì)數(shù)正態(tài)分布、R-R分布等多種分布模式結(jié)果。