背向 +90°散射粒度

 +Zeta 電位 +0°光電模塊四合一型

產品介紹

BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀是丹東百特儀器有限公司2024年最新推出的表征納米體系特性的頂級光學檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS、靜態(tài)光散射SLS以及透射光檢測技術，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta電位，高分子和蛋白體系的分子量、液體的折射率、以及顆粒物濃度信息等等參數(shù)，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等等領域的基礎研究和質量分析質量控制用途。

基本性能指標

粒徑檢測（動態(tài)光散射法）

? 粒徑范圍：0.3 nm–15 μm

? 最小樣品量：3 μL

? 檢測角度：173°+ 90°+ 12°

? 分析算法：Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

沉降法粒度測試

? 檢測方法：沉降法

? 粒徑范圍：1 μm – 50 μm

? 檢測角度：0°

? 樣品量：1 - 3 mL

Zeta電位測試

? 檢測角度：12°

? Zeta范圍：無實際限制

? 電泳遷移率范圍：> ±20 μ.cm/V.s

? 電導率范圍：0 - 260 mS/cm

? Zeta測試粒徑范圍：2 nm –＞120 μm

分子量測試

分子量范圍：342 Da – 2 x 10⁷ Da 

微流變測試

測試能力：均方位移、復數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量

趨勢測試

模式：時間和溫度

濃度檢測

? 檢測方法：LEDLS

? 測試能力：體積分數(shù)和數(shù)量濃度

折光率測試

? 檢測方法：楔形池樣品折射（無需示蹤粒子）

? 檢測角度：0°

? RI范圍：1.2-1.6

? 精度：優(yōu)于0.1%

? 最小樣品量：380 μL

系統(tǒng)參數(shù)

? 溫控范圍：-15°C - 120°C

? 冷凝控制：干燥空氣或者氮氣

? 標準激光光源：50 mW 高性能固體激光器， 671 nm

? 相關器：快、中、慢多模式，最快25 ns采樣，最多4000通道，1011動態(tài)線性范圍

? 檢測器：APD （高性能雪崩光電二極管）+ PD + CMOS

? 光強控制：0.0001% - 100%，手動或者自動

檢測參數(shù)

動態(tài)光散射

? 流體力學尺寸 Dh

? 分布系數(shù) PD.I? 擴散系數(shù) D

? 顆粒間相互作用力因子kd

? 顆粒體系的光強、體積、面積和數(shù)量分布

? 計算分子量? 溶液粘度和折射率

? 流變學信息G*，G‘，G“，η*，J

電泳光散射

? Zeta電位及其分布

? 帶電顆粒的電泳遷移率

透射

? 透射濁度

? 顆粒物濃度

? 液體折射率

? 沉降法粒度和粒度分布測試

趨勢測試

? Zeta電位和粒徑的pH滴定

? 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢測試

靜態(tài)光散射

? 絕對分子量Mn、Mw、Mz

? 分子量分布

? 第二維利系數(shù)A₂

選配件

? 動靜態(tài)流動模式

BeNano動靜態(tài)流動模式（Flow Mode）是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端（FFF、GPC/SEC）相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進行分離，依次流出。通過檢測每個流出組分的動態(tài)光散射信號和靜態(tài)光散射號，并結合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號，得到高分辨率且不依賴于計算模型的粒徑分布、分子量分布信息。

? BAT-1自動滴定儀

樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質環(huán)境具有強烈的依賴性，尤其是環(huán)境pH，不但影響Zeta電位的大小，而且會影響顆粒體系的帶電符號。BAT-1自動滴定儀與BeNano系列連用，內置三個高精度滴定泵和一個樣品輸送泵，具有樣品攪拌能力，可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進行自動化的酸堿滴定測試，具有測試效率高、精確定量、重復性好、結果不依賴于操作者等特點。由于盛放樣品的樣品管可拋棄，避免了交叉污染的風險。

? BeScan穩(wěn)定性分析儀

BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設備，通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩(wěn)定性變化，并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS，粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。BeScan靈敏的光學系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度，能更好的洞悉樣品的微觀結構變化，從而極大的節(jié)約檢測時間，縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用，通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。