中國粉體網訊 太赫茲光譜儀可以穿透石墨烯薄膜，使科學家能夠在不破壞或污染材料的情況下，對其電氣質量進行詳細的描繪。石墨烯旗艦將學術界和工業界的研究人員聚集在一起，開發并成熟了這一分析技術，現在一種用于石墨烯表征的新型測量工具已經準備就緒。
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這一努力得益于石墨烯旗艦項目歐洲聯盟營造的合作環境，來自石墨烯旗艦項目合作伙伴丹麥DTU、意大利IIT、芬蘭阿爾托大學、英國AIXTRON、比利時imec、西班牙Graphenea、波蘭華沙大學和法國Thales R&T的科學家，以及中國、韓國和美國的合作者都參與其中。
石墨烯經常被 "夾 "在許多不同的層和材料之間，以用于電子和光子器件。這使得質量評估的過程變得復雜。而太赫茲光譜學使事情變得簡單。它可以對封裝材料進行成像，并揭示下面石墨烯的質量，暴露制造過程中關鍵點的缺陷。這是一種快速、非破壞性的技術，可以探測石墨烯和層狀材料的電特性，而無需直接接觸。
像太赫茲光譜這樣的表征技術的發展是加速大規模生產的基礎，因為它們保證了石墨烯功能器件的制造是一致的、可預測的、沒有缺陷的。質量控制先于信任。得益于Graphene Flagship開創的其它技術進展，如石墨烯和分層材料的卷對卷生產讓制造技術已經準備好邁向下一步。太赫茲光譜技術使我們能夠在不忽視質量的前提下加快石墨烯的生產速度。得益于太赫茲光譜技術，制造者可以在不接觸石墨烯樣品的情況下，輕松繪制出甚至是米級的石墨烯樣品，這在其他一些最先進的技術中是不可能的。此外，石墨烯旗艦目前正在研究如何將太赫茲光譜直接應用到卷對卷石墨烯生產線中，并加快成像速度。
（中國粉體網編輯整理/青黎）
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