中國粉體網訊 2020年7月3日，由中國粉體網聯合中國顆粒學會顆粒測試專委會、北京粉體技術協會共同舉辦的“粉體粒度表征及在線檢測技術網絡研討會”成功召開，本次網絡研討會邀請來自上海理工大學的沈建琪教授作《顆粒測試技術的最新進展》報告。
在顆粒檢測中，常用的顆粒檢測方法有篩分法、沉降法（重力沉降、離心沉降）、電感應法、顯微鏡法、光散射法和超聲法幾種，其中光散射法因其較高的實用性和較好的檢測效果受到廣泛歡迎。本次報告，沈建琪教授主要從三個方面展開：一、散射式激光粒度儀的原理及應用；二、消光脈動法和消光脈動頻譜法原理及應用；三顆粒檢測技術與CCD成像技術的結合檢測原理及應用。
根據散射光的應用原理粉體顆粒光散射法檢測技術可以分為靜態光散射和動態光散射兩大類。靜態光散射技術又可分為衍射法與角散射法、消光法，其中衍射法和角散射法利用散射光信號的空間分布特征而消光法利用透射光信號的頻譜特征。動態光散射主要利用分子的熱運動，根據形式不同可分為光子相關光譜法和圖像動態光散射法。
在報告中，沈教授向我們深入淺出的介紹了散射式激光粒度儀的原理、發展與應用，并從原理出發介紹了影響散射式激光粒度儀檢測效果的幾點重要因素。其中，沈教授著重介紹了“散射式激光粒度儀粒徑測量上下限”和“散射信號異常”兩個核心問題并對激光粒度儀和篩分進行比較。
在討論消光法與消光脈動法時，沈教授首先介紹了消光法與消光脈動法的誕生背景，之后又針對兩種消光法的檢測特點和原理進行深入的講解和比較，同時針對兩種方法的工業應用進行了舉例與分析。
隨著工業對顆粒檢測效果的要求不斷提高，顆粒檢測技術也在不斷推陳出新，其中顆粒測試技術與CCD成像結合是未來顆粒檢測技術發展的大趨勢，在報告中，沈教授結合研究前沿和工程實踐，生動形象的介紹了當前流行的顆粒檢測與CCD成像技術應用范例：數字全息成像法、干涉顆粒成像技術、彩虹成像。其中數字全息成像法利用“衍射光+參考光”成像，干涉顆粒成像技術則利用側向散射光成像，而彩虹成像所利用的則是彩虹散射成像。
專家介紹
沈建琪，上海理工大學理學院教授、中國顆粒學會常務理事兼顆粒測試專委會副主任委員、中國計量測試學會多相流測試專委會副主任委員。主要從事光學學科的科研和教學工作，研究領域涉及電磁場和電磁波理論、顆粒和含顆粒兩相流的光散射測試技術。先后承擔了國家兩機重大專項項目、國家自然科學基金項目和上海市人才專項等縱向項目，發表論文150多篇，參與撰寫學術專著2本。
（中國粉體網編輯整理/江岸）
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