2012年5月23日，為了給用戶提供一個了解顆粒特性分析技術最新動態和交流使用心得的平臺，貝克曼庫爾特公司在清華大學環境學院成功舉辦了“顆粒特性分析技術講座”，貝克曼庫爾特分析儀器產品全球市場經理THOMAS ED HORTON先生、分析系統市場專家HANDY YOWWANTO先生等公司高層攜相關技術專家出席了會議，為40多位顆粒特性分析工作者作了精彩的講解；中國粉體網作為特邀媒體應邀參加。
會議現場
貝克曼庫爾特顆粒特性分析部技術應用經理MATTHEW RHYNER博士
貝克曼庫爾特微粒表征產品系列概述
MATTHEW RHYNER博士首先介紹說：“貝克曼庫爾特微粒表征產品涉及Z + MultisizerTM系列庫爾特計數器、LSTM系列激光散射粒度分析系統、DelsaNanoTM納米粒子分析儀、XLA/XLI超速分析離心機和SA3100比表面分析儀等，主要為具有粒度、電荷、濃度和孔隙度等特性相關需求行業和學術界的客戶提供解決方案”。隨后，MATTHEW RHYNER博士就這五類產品的技術優勢應用領域做了系統的闡述。
四大顆粒表征方法的技術優勢和典型應用
MATTHEW RHYNER博士分別詳細介紹了激光衍射法、庫爾特法、動態光散射法和zeta電位的測試方法、常見問題、技術優勢和典型應用。
(1) 激光衍射法
MATTHEW RHYNER博士講到：“激光衍射法是一種測量粒度的方法，是世界上最流行的粒度測量技術，可以為用戶提供快速和一致的結果，并且在能想象到的幾乎每個行業中都有所應用，如藥品乳劑、粉末涂料、咖啡、化妝品、調味品、污水等行業領域”。
LS系列激光粒度分析儀
貝克曼庫爾特LS系列激光粒度分析系統是基于此原理制造的，該儀器的激光器為先進的高功率光纖連接固體光源，壽命長;可同時采用4個波長(450nm，600 nm，780 nm及900 nm)及背散射測量;干法樣品臺采用最先進的“龍卷風”系統及設計，“快速氣流變換“技術配置無須早期設計之空氣壓縮機，模擬龍卷風產生機理，產生高度剪切力以達至最佳而非破碎性分散效果。
(2) 庫爾特法
MATTHEW RHYNER博士講到：“庫爾特法由庫爾特先生于1948年發明，并于1953年10月20日取得專利權，是一種獨特的非光學方法，用于對稀釋的導電液體中存在的物質進行粒度分析，在過濾效率、干細胞、蛋白質聚集體、體外診斷體液、細胞水腫動力學、海水等領域有著廣泛的應用前景。”
貝克曼庫爾特生產的Multisizer 3顆粒計數儀正是基于此原理制造的。該儀器適用于分析顆粒、細胞、微生物等;可分析光學技術不能檢測之濃度極低樣品，如水樣品。細菌等;具備精確體積測量泵，可作定量分析，而且不受顆粒形狀、顏色及光學特性(折光率與吸光率)的影響，實時提供顆粒計數與粒度分布，分辨率高。
Multisizer 3庫爾特顆粒計數儀
(3) 動態光散射法和zeta電位分析法
MATTHEW RHYNER博士講到：“動態光散射是一種用于估計非常小物體直徑的技術，可檢測的最小粒子粒度為0.6nm-7μm，在納米粒子和生物樣品分析方面應用廣泛，適合分析球形粒子，難于分析圓柱形粒子。”
“zeta電位是一種用于計算粒子在溶液中所帶電荷的參數，是根據物體的電泳淌度計算而來，可以對樣品進行定性比較、測定等電位點、鑒定涂層的效果或質量。”
DelsaNano系列納米粒度/Zeta電位儀
與上述表征方法相關的貝克曼庫爾特的儀器是DelsaNano系列納米粒度/Zeta電位儀是基于這兩種方法制造的。它的主要特點是：該儀器采用了高靈敏度技術，可以測量高濃度樣品和極低濃度樣品的Zeta電位以及納米粒度，不需前處理，濃度動態范圍達四個數量級。
現場討論
清華大學環境學院高工郭玉鳳女士（右）
另外，講座會還特設了顆粒分析技術問答環節，參會者積極討論，增強了儀器用戶與廠商專家的互動，取得了良好的效果。
貝克曼庫爾特高層與參會用戶合影留念
欲了解更多，點擊進入該公司展位>>
會議現場
貝克曼庫爾特顆粒特性分析部技術應用經理MATTHEW RHYNER博士
貝克曼庫爾特微粒表征產品系列概述
MATTHEW RHYNER博士首先介紹說：“貝克曼庫爾特微粒表征產品涉及Z + MultisizerTM系列庫爾特計數器、LSTM系列激光散射粒度分析系統、DelsaNanoTM納米粒子分析儀、XLA/XLI超速分析離心機和SA3100比表面分析儀等，主要為具有粒度、電荷、濃度和孔隙度等特性相關需求行業和學術界的客戶提供解決方案”。隨后，MATTHEW RHYNER博士就這五類產品的技術優勢應用領域做了系統的闡述。
四大顆粒表征方法的技術優勢和典型應用
MATTHEW RHYNER博士分別詳細介紹了激光衍射法、庫爾特法、動態光散射法和zeta電位的測試方法、常見問題、技術優勢和典型應用。
(1) 激光衍射法
MATTHEW RHYNER博士講到：“激光衍射法是一種測量粒度的方法，是世界上最流行的粒度測量技術，可以為用戶提供快速和一致的結果，并且在能想象到的幾乎每個行業中都有所應用，如藥品乳劑、粉末涂料、咖啡、化妝品、調味品、污水等行業領域”。
LS系列激光粒度分析儀
貝克曼庫爾特LS系列激光粒度分析系統是基于此原理制造的，該儀器的激光器為先進的高功率光纖連接固體光源，壽命長;可同時采用4個波長(450nm，600 nm，780 nm及900 nm)及背散射測量;干法樣品臺采用最先進的“龍卷風”系統及設計，“快速氣流變換“技術配置無須早期設計之空氣壓縮機，模擬龍卷風產生機理，產生高度剪切力以達至最佳而非破碎性分散效果。
(2) 庫爾特法
MATTHEW RHYNER博士講到：“庫爾特法由庫爾特先生于1948年發明，并于1953年10月20日取得專利權，是一種獨特的非光學方法，用于對稀釋的導電液體中存在的物質進行粒度分析，在過濾效率、干細胞、蛋白質聚集體、體外診斷體液、細胞水腫動力學、海水等領域有著廣泛的應用前景。”
貝克曼庫爾特生產的Multisizer 3顆粒計數儀正是基于此原理制造的。該儀器適用于分析顆粒、細胞、微生物等;可分析光學技術不能檢測之濃度極低樣品，如水樣品。細菌等;具備精確體積測量泵，可作定量分析，而且不受顆粒形狀、顏色及光學特性(折光率與吸光率)的影響，實時提供顆粒計數與粒度分布，分辨率高。
Multisizer 3庫爾特顆粒計數儀
(3) 動態光散射法和zeta電位分析法
MATTHEW RHYNER博士講到：“動態光散射是一種用于估計非常小物體直徑的技術，可檢測的最小粒子粒度為0.6nm-7μm，在納米粒子和生物樣品分析方面應用廣泛，適合分析球形粒子，難于分析圓柱形粒子。”
“zeta電位是一種用于計算粒子在溶液中所帶電荷的參數，是根據物體的電泳淌度計算而來，可以對樣品進行定性比較、測定等電位點、鑒定涂層的效果或質量。”
DelsaNano系列納米粒度/Zeta電位儀
與上述表征方法相關的貝克曼庫爾特的儀器是DelsaNano系列納米粒度/Zeta電位儀是基于這兩種方法制造的。它的主要特點是：該儀器采用了高靈敏度技術，可以測量高濃度樣品和極低濃度樣品的Zeta電位以及納米粒度，不需前處理，濃度動態范圍達四個數量級。
現場討論
清華大學環境學院高工郭玉鳳女士（右）
另外，講座會還特設了顆粒分析技術問答環節，參會者積極討論，增強了儀器用戶與廠商專家的互動，取得了良好的效果。
貝克曼庫爾特高層與參會用戶合影留念
欲了解更多，點擊進入該公司展位>>
