英國馬爾文儀器有限公司是世界著名的顆粒表征領域先鋒。為深入研究探索顆粒特性及表征方法，馬爾文儀器將于2012年4月16日在北京舉辦“顆粒表征技術應用研討會”， 內容匯集顆粒表征的最新技術和應用，案例分析，樣品測量演示，以及現場答疑解惑。
我們誠邀您的參與！來自中英兩國的馬爾文材料表征技術專家將與您分享有關粒度測量，顆粒圖像分析和樣品制備與分散等最前沿的技術原理與應用。
時間地點：
北京：4月16日 星期一 德寶飯店 西城區西直門外大街德寶新園22號 電話：010-68318866
會議日程:
09:00 – 09:30 簽到
09:30 – 10:45 激光衍射法粒度測量技術原理及最新進展-1
10:45 – 11:00 茶歇
11:00 – 11:45 激光衍射法粒度測量技術原理及最新進展-2
11:45 –12:45 顆粒圖像分析及應用-1
12:45 –14:00 工作午餐
14:00 –15:00 顆粒圖像分析及應用-2
15:00 –15:15 茶歇
15:15 –16:30 樣品分散方法的建立和確認以及影響測量結果的因素
16:30 –17:00 問題解答
報名方式： 點擊下載并填寫報名回執
發送郵件至: Jillian.yu@malvern.com.cn
或傳真至：021-61133778
聯系人：馬爾文儀器市場部 于小姐
敬請立即報名，優先預訂此次馬爾文研討會限量座席！
注：本次會議不收取任何參會費
詳細文章來源：英國馬爾文儀器有限公司
