9月4日在廣州建國酒店舉行的“顆粒特性表征技術(shù)新進(jìn)展”講座圓滿結(jié)束，來自廣東各地及華西南區(qū)的工礦企業(yè)、高校及研究單位的近百名客戶參加了本次講座。
本次講座由貝克曼庫爾特公司美國總部資深技術(shù)專家、顆粒分析儀器屆知名人士許人良博士主講。在近4個(gè)半小時(shí)的時(shí)間里，許博士作精彩的演講。講座中他分別介紹了納米粒度測量的最新國際標(biāo)準(zhǔn)與相應(yīng)的測量新技術(shù)、貝克曼庫爾特公司獨(dú)有的美國專利---透明電極測量高濃度ZETA電位技術(shù)、創(chuàng)新的固體表面ZETA 電位測量技術(shù)、粉體干法測量的先進(jìn)技術(shù)----“龍卷風(fēng)”激光粒度儀，以及全球著名的Multisizer系列最新的庫爾特計(jì)數(shù)儀。
在技術(shù)問答環(huán)節(jié)，由于聽眾提問踴躍，時(shí)間遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出設(shè)定時(shí)間，使得“技術(shù)問答”環(huán)節(jié)一直延續(xù)到晚飯的飯桌之上........
許人良博士在演講
聽眾聚精會神
技術(shù)講座現(xiàn)場
聽眾提問
