參考價(jià)格
5-10萬元型號(hào)
DTSP10-03品牌
日本ncc產(chǎn)地
日本樣本
暫無誤差率:
不限分辨率:
400重現(xiàn)性:
300分散方式:
100測(cè)量時(shí)間:
不限測(cè)量范圍:
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粒徑測(cè)量范圍:可對(duì)10μm以上的粗大粒子進(jìn)行分級(jí)計(jì)量。
粒徑區(qū)分:10μm、30μm、50μm、100μm,11~99μm范圍內(nèi)可以設(shè)定數(shù)值。
晶片尺寸:使用4英寸晶片進(jìn)行采樣。
**測(cè)試范圍:Ф80mm。
Trimming功能:具備Trimming功能,可進(jìn)行更精確的測(cè)量。
切換顯示:支持區(qū)分表示,可切換顯示不同粒徑范圍的數(shù)據(jù)。
無塵室監(jiān)測(cè):用于監(jiān)測(cè)無塵室中的落塵情況,幫助評(píng)估無塵環(huán)境的質(zhì)量。
產(chǎn)品表面污染檢測(cè):可檢測(cè)產(chǎn)品表面附著的粗大粒子,有助于提高產(chǎn)品質(zhì)量。
設(shè)備內(nèi)部污染檢測(cè):適用于檢測(cè)設(shè)備內(nèi)部附著的塵埃,便于進(jìn)行清潔和維護(hù)。
高精度測(cè)量:能夠精確測(cè)量10μm以上的粗大粒子,提供可靠的測(cè)量數(shù)據(jù)。
多種粒徑區(qū)分:支持多種粒徑范圍的測(cè)量,滿足不同應(yīng)用場(chǎng)景的需求。
靈活的采樣方式:使用晶片進(jìn)行采樣,適用于多種表面和空間的測(cè)量。
綜上所述,DTSP10-03落塵計(jì)數(shù)器是一款適用于粉體行業(yè),特別是對(duì)無塵環(huán)境和產(chǎn)品表面污染檢測(cè)有需求的高精度測(cè)量設(shè)備。
產(chǎn)品特點(diǎn)
粒徑測(cè)量范圍:可對(duì)10μm以上的粗大粒子進(jìn)行分級(jí)計(jì)量。
粒徑區(qū)分:10μm、30μm、50μm、100μm,11~99μm范圍內(nèi)可以設(shè)定數(shù)值。
晶片尺寸:使用4英寸晶片進(jìn)行采樣。
最大測(cè)試范圍:Ф80mm。
Trimming功能:具備Trimming功能,可進(jìn)行更精確的測(cè)量。
切換顯示:支持區(qū)分表示,可切換顯示不同粒徑范圍的數(shù)據(jù)。
應(yīng)用場(chǎng)景
無塵室監(jiān)測(cè):用于監(jiān)測(cè)無塵室中的落塵情況,幫助評(píng)估無塵環(huán)境的質(zhì)量。
產(chǎn)品表面污染檢測(cè):可檢測(cè)產(chǎn)品表面附著的粗大粒子,有助于提高產(chǎn)品質(zhì)量。
設(shè)備內(nèi)部污染檢測(cè):適用于檢測(cè)設(shè)備內(nèi)部附著的塵埃,便于進(jìn)行清潔和維護(hù)。
優(yōu)勢(shì)
高精度測(cè)量:能夠精確測(cè)量10μm以上的粗大粒子,提供可靠的測(cè)量數(shù)據(jù)。
多種粒徑區(qū)分:支持多種粒徑范圍的測(cè)量,滿足不同應(yīng)用場(chǎng)景的需求。
靈活的采樣方式:使用晶片進(jìn)行采樣,適用于多種表面和空間的測(cè)量。
綜上所述,DTSP10-03落塵計(jì)數(shù)器是一款適用于粉體行業(yè),特別是對(duì)無塵環(huán)境和產(chǎn)品表面污染檢測(cè)有需求的高精度測(cè)量設(shè)備。