國產高分辨輝光放電質譜儀（型號：Sparkle型）是十四五科技部重大科學儀器設備開發專項的**成果，由西安交通大學主導研發，并依托我公司進行生產、銷售及售后服務。該儀器采用慢速流輝光放電離子源，同時配備針狀和片狀樣品架，可用于導體、半導體、絕緣體、粉末、涂層等材料分析。液氮冷卻離子源的結構設計，輕松對低熔點金屬（如金屬鎵Ga）進行分析。

產品特點：

1.     國產化高分辨質譜儀：國內首款高分辨輝光放電質譜儀，完全自主可控，關鍵零部件國產化率超過95%。

2.     固體樣品快速分析：支持片狀、針狀、粉末等多種類型固體樣品分析，便捷的樣品裝載結構，可在1分鐘內實現樣品的快速更換，一次掃描便可實現常量、微量、痕量、超痕量雜質元素的同時測量。

3.     高質量分辨率：采用自主設計的高分辨離子光學系統，**可達到10000的質量分辨率（10%峰谷），在中分辨率條件下，可實現平頂峰測量，在提高測量精密度的同時，采用跳峰法進一步提高分析效率。

4.     低運行成本：采用慢速流離子源，典型流量0.2sccm，反應氣消耗成本幾乎可以忽略。高純鉭的放電室易于清潔，很大限度減小了記憶效應，可以重復使用。

5.     便捷的操作軟件：儀器配套的操作軟件完全自主研發，操作簡單、易于上手。支持Windows、Linux、國產操作系統。

技術指標

（1）質量范圍：6~280 amu；

（2）質量穩定性：優于25 ppm/30min；

（3）質量分辨率：低分辨（LR）≥400，中分辨（MR）≥4000，高分辨（HR）≥10000，單次測量可自動進行分辨率切換；

（4）靈敏度：中分辨下，銅樣品進樣，Cu離子的總離子流峰高≥1E10cps；

（5）離子計數器性能：

??  暗噪聲：≤10 cpm；

??  探測效率：＞90%

（6）動態范圍: 不低于1E12；

（7）儀器檢出限：ppb級別；

（8）豐度靈敏度：中分辨下，銅樣品進樣，測量質量數62相對質量數63豐度靈敏度<20ppb；

（9）內部重復性：主量成份< 3%RSD，次量成份< 5%RSD，痕量成份<10%RSD；

（10）外部重復性：主量成份<5%RSD，次量成份<10%RSD，痕量成份<20%RSD。