PVA TePla SAM系列的超聲波掃描顯微鏡使用簡單，操作方便，是一款用于過程控制和質量保證，以及研究應用的無損檢測設備。SAM系列旗下各型號均統一由一個符合行業標準的組件平臺衍生而來，在此基礎上，再融入了***的生產和制造技術。憑借我司精密制造的高頻和換能器技術，我們的超聲波掃描顯微鏡能夠在高達400MHz的超聲頻率范圍內進行詳細的聲學分析。這些設備可以廣泛應用于材料科學、生物醫學、電子工業等領域，幫助用戶實現快速且準確的無損檢測。無論是對材料中的缺陷進行定位和分析，還是對樣品結構和表面形貌進行觀察和評估，我們的超聲波掃描顯微鏡都能提供可靠且高分辨率的成像結果。同時，我們還提供靈活多樣的配置選項，以滿足不同用戶需求和實驗要求。我們致力于為客戶提供**性能和可靠性的超聲波無損檢測解決方案，以滿足不斷發展的科學研究和工業生產的需求。

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SAM系列系統是專門用于質量和過程控制的無損檢測工具，借助高達400兆赫的新射頻和換能器技術實現詳細的聲學調查。簡單而強大的圖形界面確保了*終用戶可以充分使用該系統性能和功能。

X和Y方向的掃描范圍可單獨自定義，可選擇以下掃描范圍配置：

• 250μm x 250μm到320mm x 320mm

• 250μm x 250μm到420mm x 420mm

模塊化設計和獨有的功能，如穿透式掃描、動態穿透式掃描、或”雙探頭 “和 “四探頭 “掃描儀配置等，大大優化了掃描成像結果。