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| 產(chǎn)品簡(jiǎn)介 ： | 表面缺陷檢測(cè)的內(nèi)容: 缺角、破裂、劃痕、裂痕、肉眼可識(shí)別 邊緣崩裂、污漬異物、肉眼可以識(shí)別的 劃痕；晶片的兩個(gè)主面上的缺陷均能 檢查分辨 |
量測(cè)功能：芯片的長(zhǎng)寬及四角的垂直度檢測(cè)，量測(cè)的公差:精度±2um。
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