SM304 InGaAs 陣列光譜儀

科研級高性能

極低的暗噪聲和雜散光

寬的動態范圍和高的信噪比

高穩定性

靈活的光纖輸入直接到狹縫或通過光纖

廣泛的應用設計

高速數據采集

各種近紅外范圍從900納米到2500納米

應用:

光譜產品將提供新的SM304 TE致冷的InGaAs陣列光譜儀。

SM304系列是理想的近紅外光譜法，需要非常高的信噪比和/或高動態響。高性能的SM304系列的低噪聲電平，能夠應用在非常苛刻的應用。

SM304系列中使用的檢測器的高靈敏度允許各種寬帶應用，例如，測量在近紅外范圍內的各種樣品，在分析化學品/水分檢測的光學性質，以及一個窄頻帶的應用，如近紅外激光表征。

標準接口SM304系列與16位在USB 1.1/2.0兼容接口。軟件支持包括SDK和DLL的專用應用程序的開發，我們的SM32Pro基于Windows的光譜采集和分析軟件。

軟件:

SM32Pro - 視窗95，2000，XP，7的軟件（支持32位和64位）進行數據采集和分析透射率，反射率，和吸光度測量

數據導出，放大和縮小，頻譜覆蓋，還有更多的功能

信號平均和積分時間控制

可在DOS和Windows用戶方便的軟件開發DLL庫

用VC+ + / VB/ Labview的例子