MF250N是UPRtek公司制造的一部輕巧，易攜帶的頻閃測量儀。以其優良的性能和極高的性價比在市場上廣受好評。

MF250N手持式光波動頻率測試計(Handheld Lightwave meter)是全球首部**同時具備分光光譜數據頻閃檢測儀，同步提供CCT，LUX等光譜計數據，專業的光源驅動波形測試，并附有簡易的光譜測試功能。適合專業工程人員作為其照明驅動頻率異常的測試；其中的重要頻閃分析參數有包括有:閃爍百分比（Percent Flicker）和閃爍指數（Flicker Index）及頻閃效應可視參數SVM（stroboscopic effect visibility measure）。

功能

手持式頻閃測量儀MF250N偏重于在頻閃（Flicker）數據的測試分析，同時可以得到光源的光譜參數。若客戶僅需透過手持式的儀器與買家或賣家做即時性的產品規格比對、確認，或者推廣驗證自家產品的質量，選擇MF250N相對是性價比很高的**選擇。

測量模式分為基本模式、光譜模式、頻閃模式、頻率模式、波幅模式。

基本模式中，可以得到測量光源后的相關色溫（CCT）、顯色指數（CRI）、照度（LUX）、峰值波長λP、曝光時間（I-Time）。

頻閃模式中，在測量界面上可以顯示4個頻閃相關參數，Flicker Index、Flicker Percentage、Frequency、SVM。此模式是持續監控測量，可以獲得該光源所包含的光源頻率的相對強度。

波幅模式可以連續監控測量得到該光源的頻率和相對強度。

校正

建議每次開機使用MF250N前，執行暗校正。同時，本品為高精度測量儀器，內部包含許多敏感元件，請小心使用。為確保測量的準確性，建議每年校正一次，校正服務請與本公司聯系。

通過 LightWave 模式，好比有一臺示波器立即檢測頻率波形，及顯示振幅大小變化。

透過FFT傅立葉轉換量測，了解燈源驅動原件與光源電路整合后，測出工作狀態波形vs.頻率，并進一步分析驅動細節。

IEEE PAR1789-Percent Flicker-頻閃百分比 （以Fpercentage（%）表示）

光源輸出周期變化的相對測量值，數值高代表頻閃可能性越高

標準：Fpercentage（%）< 輸出頻率 x 0.08

Percent Flicke頻閃百分比r = 100% * [(A-B)/(A+B)]

圖中舉例量測得到結果： 58% 在頻率 120Hz的情況下

58% > 120Hz * 0.08 --à頻閃可能性高

Energy Star-Flicker Index-頻閃指數（以Findex表示）

數值：0-1 數值越大，頻閃越嚴重

限制：

1)100HZ ↓:不可有Flicker

2)100~800HZ: 符合要求區

3)800HZ ↑ : Flicker 允許（Flicker 指數可忽略）

SVM（Stroboscopic Visibility Measure）-低頻閃控制技術與指標

推廣單位：PHILIPS & CIE & 美國能源局等組織共同合作研究 -針對 >80HZ 以上頻閃效應的影響，制定量測標準

SVM>1 可見頻閃 ，SVM=1 剛好可見， SVM<1 不可見頻閃

例圖: 自轉的轉盤

便攜手持式頻閃測量儀MF250N的參數