美國LUMETRICS公司自主研發的CLAS-2D^TM系列波前分析儀（CLAS-2D™ ， CLAS-XP™， CLAS-HP™， CLAS- NearIR-320™， CLAS-NearIR-640™）能夠快速、簡單、準確的測量激光光束的波前相位參數，例如波前傾斜，峰谷誤差，均方根波前誤差，像散，球差，聚焦誤差/準直。

LUMETRICS公司的波前分析儀是集四波橫向剪切干涉儀，光束質量分析儀，自準直儀和四象限探測器為一體的快速、緊湊型波前分析儀器。運用獨特的算法能夠精確測量三個波段的波前參數：300nm -1100 nm， 1100nm - 1700nm和8 um- 9.2 um。

另外，美國LUMETRICS波前傳感器生產廠家具有雄厚的技術研發實力，能為客戶提供的各種自適應光學系統OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定個性化解決方案。可根據客戶的應用需求，為客戶推薦*合適的波前傳感器、可變形鏡或空間光調制器、自適應光學系統操作軟件等。

波前分析儀產品特點：

CLAS-2D^TM系列波前分析儀具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態檢測范圍、操作簡便等獨特的優勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析，眼科虹膜定位波前像差引導等提供了全新的解決方案！LUMETRICS波前探測器配套的軟件界面友好，可直觀的輸出高分辨率相位圖和光束強度分布圖。

波前分析儀應用范圍：

?激光、天文、顯微、眼科等復雜自適應光學系統波前像差檢測

?激光光束性能、波前像差、M²、強度等的檢測

?紅外、近紅外探測

?平行光管/望遠鏡系統的檢測與裝調

?衛星遙感成像、生物成像、熱成像領域

?球面、非球面光學元器件檢測(平面，球面，透鏡)

?虹膜定位像差引導

?大口徑高精度光學元器件檢測

?激光通信領域

?航空航天領域

CLAS-2D^TM產品型號匯總

COMPLETE CLAS-XP System

COMPLETE CLAS-HP System

COMPLETE CLAS-Near IR 320 System