X射線熒光鍍層測厚儀，材料分析儀

X射線熒光鍍層測厚儀屬于菲希爾的產品，HELMUT FISCHER(菲希爾)在涂層硬度側厚、鍍層硬度測厚、材料分析、微納米硬度測試和材料測試等領域為您提供***的產品和*完善的解決方案。

X射線熒光鍍層測厚儀產品用途：

由于能量色散X射線熒光光譜法可以分析材料成分和測量薄鍍層及鍍層系統，因而應用廣泛;

在電子和半導體產業里，測量觸點上薄金，鉑和鎳層厚度或痕量分析。

在鐘表和珠寶行業或采礦精煉工業中，精確分析貴金屬合金組分。

在質量管控和來料檢驗中，需要確保產品或零部件完全滿足材料設計規范。如在太陽能光伏電池產業中，光伏薄膜的成分組成和厚度大小決定了光伏電池的效率。在電鍍行業中，則需要測量大批量部件的厚度。

對于電子產品的生產者和采購者，檢驗產品是否符合《限制在電子電氣產品中使用有害物質的指令》（ROHS指令）也是十分關鍵的。

在玩具工業中，也需要有可靠的有害物質檢測手段

對于以上測量應用，菲希爾的FISCHERSCOPE X-射線光變儀都能**勝任。

X射線熒光鍍層測厚儀，材料分析儀也可測量金屬元素的等。

我司除了X射線熒光測厚儀還有元素分析儀，金鎳厚度測量儀，孔銅測厚儀，面銅測厚儀，涂鍍層測厚儀，臺式涂層鍍層測厚儀，銅箔測厚儀，綠油測厚儀，油墨測厚儀，各領域的測厚儀。