特性

• 定性的光束準直測試，適用于直徑為Ø1-Ø50毫米的光束
• 磁性耦合可調(diào)設(shè)計，允許快速更換剪切板
• 英制和公制螺紋安裝孔

SI系列剪切干涉儀可用于確定相干光束是否準直。該設(shè)計包括一個45度安裝的楔形光學(xué)平板，和一塊位于中間的帶刻度參考線的散射屏。

散射屏用于觀察由光學(xué)平板的前后表面的菲涅爾反射產(chǎn)生的干涉條紋。如果光束已經(jīng)準直，干涉條紋會平行于帶刻度的參考線。除了準直度以外，干涉條紋還對球差、慧差和像散敏感。

楔形光學(xué)平板是由未鍍膜的紫外熔融硅。每個板尺寸的楔角優(yōu)化到可接受光束尺寸的范圍；詳情請看規(guī)格標簽。由于光在板上的入射角為45度，條紋圖案的強度取決于極化光。當偏振垂直于入射面時會產(chǎn)生**強度。

為了觀察到的干涉條紋，入射的光的相干長度必須長于由剪切板引起的光程長度的變化。規(guī)格標簽的更多信息，請參閱下表腳注。

構(gòu)造

剪切干涉儀由三部分組成一套：一個底座，一個帶有楔形光學(xué)平板的板，和一個帶有擴散屏幕的板。建立該干涉儀用4-40螺絲和六角鍵連接觀察屏幕板與底座。楔形光學(xué)平板通過磁力夾持就位，使它能夠很容易地換成帶有不同楔形光學(xué)平板的板。該底座是由經(jīng)陽極氧化處理的鋁和帶有安裝Ø1/2英寸接桿的螺紋孔組成。在楔形光學(xué)平板后面的底座上有一個孔，這樣光可以毫無阻礙地穿過光學(xué)平板。右邊的橫截面圖的說明剪切干涉儀的構(gòu)造和光束傳播。

附件

對與小直徑光束，相應(yīng)的干涉條紋圖樣也小，這樣就不利于觀測。對于這種情形，可以購買SIVS放大觀察屏配件，它可以代替標準的散射觀察屏，從而增大散射屏上條紋的尺寸。SIVS包括一個已安裝的發(fā)散透鏡和散射屏，這種屏適合觀察直徑為1至10毫米的光束。該板含有可以單獨提供的楔形光學(xué)平板，使各種光束的尺寸可以用一個單一的底座單元測試。

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上圖是UVFS在光正入射時的透過率曲線。其中UVFS樣品未鍍膜，厚度為1毫米，數(shù)據(jù)也包含表面反射。