納米粒度/Zeta電位分析儀概要：納米顆粒系列儀器可以靈活地測量分析微粒的物理性質(zhì)。它可用于粒度大小分析儀，也可用于Zeta電位、分子量（MW）和維里系數(shù)（A2）的測量。SZ-100的典型應(yīng)用包括：納米粒子、膠體、乳膠和亞微細(xì)粒懸浮液的測量。

粒度分析通過動態(tài)光散射（DLS）實現(xiàn)，對于不同物理性質(zhì)的樣品，其測量動態(tài)范圍為：0.3nm-8um.它的檢測下限受樣品濃度、散射光強度和存在的大粒度干擾粒子的影響，監(jiān)測上限受樣品的濃度影響，因為動態(tài)散射光的運動模式來自于布朗運動而非重力沉降。

離子表面電荷具有用測量Zeta電位懸停的特征。將樣品注射進樣品池，由粒子電泳淌度得出Zeta電位。樣品的Zeta電位通常作為散布穩(wěn)定性的指示，大數(shù)量級的Zeta電位值表明靜電穩(wěn)定懸浮將會保持穩(wěn)定，Zeta電位的測量通常作為PH或者其他化學(xué)過程中的變化，以幫助配方設(shè)計師創(chuàng)造出保存期限更長的新產(chǎn)品。相反地，識別條件在Zeta電位為零時（也就是說樣品在等電點）允許為粒子絮凝化和分離選擇**條件。

這款儀器還能夠用于測量分子量、蛋白質(zhì)、聚合物和其他分子的第二維里系數(shù)。操作者準(zhǔn)備幾種已知濃聚物的溶液，然后用系統(tǒng)的靜態(tài)光散射模式去創(chuàng)建一個Debye圖，通過這個結(jié)果可以算出MW和A2.

規(guī)格：

• 粒度：動態(tài)光散射（DLS）技術(shù)

測量精度： 顆粒大小：符合ISO13321/22412，NIST可追蹤的聚苯乙烯乳液粒子的標(biāo)準(zhǔn)：100nm測量精度=+-2%

濃度： 下限：0.1mg/mL(溶解酵素)上限：40wt%(取決于樣品)

測量時間：通常2分鐘（粒度測量）

取樣單元： 比色池

取樣量：12um-4mL (取決于樣品池的容量)

B)Zeta電位：激光多普勒電泳技術(shù)

測量范圍： -200~200mV

測量時間：通常大約2分鐘

取樣單元：專用一次性樣品池

取樣量：100ul(對于一次性樣品池)

C)分子量：靜態(tài)光散射Debye圖技術(shù)

測量范圍：MW：1*10^3-2*10^7g/mol

樣品池：比色池

物理參數(shù)：

供電電源:AC100-240V，50/60Hz，150VA

激光器：DPSS 532nm，10mW ClassI

接口：USB2.0

外形尺寸：385（D）*528（W）*273（H）mm

重量：約25kg

使用溫度范圍：1-90度（粒度測量），1-70度（Zeta電位測量）

工作溫濕度：15-35度，相對濕度<=85%

冷凝控制：凈化端口連接有效

產(chǎn) 品 說 明：

超寬動態(tài)光散射測量范圍:　0.3nm～8000nm

Zeta電位測量范圍：-200 to +200mV

靜態(tài)光散射測量分子量范圍：1*10^3 to 2*10^7Da

通過采用與NEDO國家項目共同開發(fā)的相關(guān)器，實現(xiàn)高性能化。

在單一納米粒子專用光學(xué)系統(tǒng)中，采用更低雜散光90°檢測光學(xué)系統(tǒng)。

雙光路系統(tǒng)（90°和173°）適用于更寬濃度范圍的樣品測量，可以進行泥漿、顏料等高濃度樣品以及蛋白質(zhì)、聚合物等低濃度樣品的測定。 Zeta電位測定

通過安裝HORIBA自主研發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)微型樣品池，可以測定僅100μL的樣品。

主要特點：

◎超小體積設(shè)計，將解析納米尺寸重要的三要素(粒子直徑、Zeta 電位、分子量測定)的測定囊括于一身。

◎從 PPM 級的低濃度到百分之幾十的高濃度樣品，都能夠在保持原液狀態(tài)下進行測量。

◎微小容量電泳樣品池是 HORIBA Scientific 獨自研發(fā)，可以測定取樣調(diào)查僅100μL的 Zeta 電位。　

◎適合膠質(zhì)粒子、機能性納米粒子材料、高分子、膠束、核糖體、納米囊等廣泛應(yīng)用。　　

◎操作簡單，進樣、設(shè)定參數(shù)后，只要按開始按鈕即可得到測量結(jié)果