一 儀器概述

實時跟蹤分子變化.

我們的QCM-D系統是建立在一個行之有效的技術之上，它具備許多科學依據.其技術基礎是在 接通恒頻電源的情況下，通過石英晶體振蕩頻率來進行測試，由于石英晶體上的質量變化而導致 振蕩頻率也變化.在測試過程中，其質量微小的變化可通過納克靈敏度來測量.

獨特的Q-Sense設備分散測量法可提供有關薄片結構及粘彈性特性的信息.它還能提供反應前 后諸如吸附膜的分子結構，厚度和含水量以及對基板表面的獨特見解等相關信息。耗散因子的 測量是通過斷開電源后石英振蕩頻率漸漸減慢過程中得出的。

QCM-D可測量任何能被加工成薄膜狀的表面，比如聚合體，金屬或化學生成的表面。此系統 還能實時進行分析且每秒可提供高達200個數據點。

二 儀器特點

l實時追蹤表面

通過可達到納克級別的靈敏度來測量物體質量變化，結構特征 及粘彈性特性.可辨別兩個相似的物體或觀測約束層中的相位 變化和結構變形.

l實時分析

Q-Sense系統每秒可高達200個數據點可使您一步一步有序 地完成分子間相互作用力的測試.

l靈活選擇測試面

可測試多種物質表面及涂料層包括金屬，金屬氧化物，聚合 物，油脂和反應表面

l系統

Q-sense提供 系統. E1系統包括指導，軟件，電腦和安裝. Q-sense還會提供培訓和技術支持.

l單個傳感器系統

緊湊，易于使用，免標定的單個傳感器式設計使得此系統在 進行測量時可靠，穩定并有優良的重復性.

l可供選擇模塊

附件模塊，可選擇電化學和窗口模塊等，