RISE 顯微鏡® (RISE Microscopy®) 是全球**集成拉曼成像與掃描電子顯微鏡于一體的聯(lián)用系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)超精細(xì)表面形貌結(jié)構(gòu)與分子化學(xué)信息的一一對(duì)應(yīng)。整個(gè) RISE 測(cè)試流程都在 SEM 真空腔進(jìn)行，樣品完成拉曼測(cè)試后(或 SEM)， 可以自動(dòng)轉(zhuǎn)移到 SEM 電子束(或拉曼)位置進(jìn)行測(cè)試， 直觀連貫的測(cè)試流程， 易操作。

參數(shù)性能：

光譜重復(fù)性：<= +/-0.02 cm-1

空間分辨率： 橫向360 nm， 縱向900 nm

*低波數(shù)：100 cm-1

光譜分辨率：<=1 cm-1

光譜范圍：90-9000 cm-1

靈敏度：硅的三階峰信噪比優(yōu)于20:1