針對材料件、電子元器件、電子組件、電子整機(jī)乃至電子系統(tǒng)的高可靠、長壽命指標(biāo)驗(yàn)證的需求，本公司利用自身專家多年在**和民用領(lǐng)域多年開展加速試驗(yàn)技術(shù)研究取得的成果和技術(shù)服務(wù)積累的經(jīng)驗(yàn)，可為用戶提供一套完善的裝備加速試驗(yàn)與壽命/可靠性快速評價整體解決方案，提出了一套五位一體的加速試驗(yàn)與快速評價模式——充分利用歷史數(shù)據(jù)評估和預(yù)測成套裝備/系統(tǒng)的可靠性/壽命趨勢、基于加速試驗(yàn)技術(shù)驗(yàn)證整機(jī)/部組件可靠性/壽命目標(biāo)要求符合性、開展板級電路與元器件壽命特征檢測深入查找產(chǎn)品內(nèi)部缺陷、針對關(guān)鍵元器件和材料件（密封件）開展加速退化試驗(yàn)和檢測分析、可靠性/壽命綜合評價等五個方面為確定裝備長壽命/高可靠性指標(biāo)提供支撐。

同時，我們針對新研發(fā)的產(chǎn)品高可靠/長壽命驗(yàn)證可能存在的失敗風(fēng)險和帶來的經(jīng)濟(jì)、時間成本損失，可為客戶提供高可靠/長壽命增長和強(qiáng)化解決方案，在正式評價試驗(yàn)前，采取可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)手段，幫助企業(yè)快速查找產(chǎn)品缺陷，協(xié)助采取改進(jìn)措施，增強(qiáng)產(chǎn)品耐環(huán)境能力和強(qiáng)度，降低產(chǎn)品失效概率和應(yīng)力安全裕度，提高產(chǎn)品一次性通過高可靠/長壽命驗(yàn)證試驗(yàn)的成功概率。