XC200數控檢驗篩為先臣**研制的一種更為精密的顆粒分樣篩機,面板控制、平臺操作;使用標準的200mm檢驗篩或者75mm的分樣篩,有對應的夾具,可選擇加裝1層到8層篩體,對所檢驗的一種物料可以分解出多組樣品。采用集成電路控制,振幅、頻率、振動方式都可以調整;噪音低、重量輕、精度高;實驗室、檢驗室對顆粒、粉末、漿液的粒度檢驗、分析,以及生產在線的質量檢驗,性能**。

◆　采用優化的集成電路控制,功能全而操作更簡單。
◆　一種顆粒料可同時精密分出2～9個粒子段。
◆　可用于漿液料的細度及雜物含量分析。
◆　噪音小、重量輕；平臺操作,無須固定。
◆　可對振動的頻率、方式、振幅等進行隨時同步調節。

序號

名稱

單位

參數

1

篩具

層

1～8

2

篩具直徑

mm

φ200φ100φ75

3

篩分粒度

mm

0.28～3

4