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在科研領域，研究進展緩慢和成本不斷上升儼然已成為一項挑戰。SYNAPT XS質譜儀具有**靈活性，可提供更大的選擇自由度，能夠打破這些壁壘，支持任何應用的科學創新和技術成功。
• 創新技術作為基石，提供**異的分析性能
• SONAR和HDMSE提供一套獨特的工具包，用于解析復雜混合物
• 離子淌度功能大大增加了峰容量和分析選擇性
• CCS測量可提高化合物鑒定的準確性
憑借沃特世高級質譜“SELECT SERIES”傳承下來的技術基石，內置先進的創新技術，確保使用該平臺的科學家處于質譜分析的*前沿，同時維持SYNAPT的易用性和成熟的客戶端工作流程。
StepWave XS
重新設計的分段四極桿傳輸光學元件，提升棘手化合物的分析靈敏度，同時進一步提高分析穩定性。
Extended ToF
針對*復雜的樣品，提供兼容UPLC的質量分辨率、耐受各種基質的動態范圍和定量分析結果，同時提供**的性能指標。
為有效解決固有難題，分析人員對各種分析策略的需求不斷增加，因此，SYNAPT XS將高性能與**靈活性相結合。競爭對手的系統大多存在入口選項有限、掃描功能局限性或需要多個平臺等問題。與之相比，只有沃特世能夠提供全方位的高性能LC-MS解決方案，該方案經過專門設計，能夠提供更大的分析選擇自由度以支持科學研究。
完整的分析策略需要結合適當的互補技術才能得到更全面的數據信息。借助SYNAPT XS上基于SONAR和IMS的非數據依賴型采集(DIA)操作模式，分析人員能夠利用互補機制，以****的方式解析復雜混合物。兩種類型的采集均提高了分析峰容量，提供“清晰明了”的碎片數據，但它們基于不同的分子特性。這提供了一種真正獨有的研究工具包，適用于深入解析復雜混合物。
傳統質譜儀基于m/z分離組分。SYNAPT XS還支持在離子淌度實驗中，使用分子大小、形狀和電荷作為其碰撞截面(CCS)的函數，對分子進行分離。 除離子淌度能提供額外的分離維度、增加峰容量和分析選擇性以外，CCS測量還可提供額外的分子標識。離子CCS的測量結果有助于確定離子名稱或研究其結構。運用離子淌度技術，顯著提高了科學家分析復雜混合物和復雜分子的范圍和可信度。
TriWave的雙碰撞室結構可進行碰撞誘導解離(CID)和/或電子轉移解離(ETD)碎裂，且分辨率高、質量測定準確，能夠拓展MS/MS檢測能力。 高解析度四極桿包括4 KDa、8 KDa或32 KDa質量數范圍，適用于從小分子到大分子的MS/MS分析
時間校準平行(TAP)碎裂是T-Wave IMS設計所獨有的采集模式。它使用戶能夠利用TriWave配置，允許將IMS前T-Wave和IMS后T-Wave作為兩個單獨的碰撞室運行。得到的CID-IMS-CID儀器操作有助于對組分進行超高可信度的結構表征。TAP碎裂與傳統MSn或MS/MS技術相比，具備**的碎片離子覆蓋率、靈敏度和準確性，在構建完整結構方面有著不容置疑的優勢。
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SYNAPT XS高分辨率質譜儀的工作原理介紹？SYNAPT XS高分辨率質譜儀的使用方法？SYNAPT XS高分辨率質譜儀多少錢一臺？SYNAPT XS高分辨率質譜儀使用的注意事項SYNAPT XS高分辨率質譜儀的說明書有嗎？SYNAPT XS高分辨率質譜儀的操作規程有嗎？SYNAPT XS高分辨率質譜儀的報價含票含運費嗎？SYNAPT XS高分辨率質譜儀有現貨嗎？SYNAPT XS高分辨率質譜儀包安裝嗎？
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