動(dòng)態(tài)干燥度分析儀利用多散斑擴(kuò)散波光譜學(xué)，在膜形成的過(guò)程中研究顆粒的運(yùn)動(dòng)。測(cè)量系統(tǒng)包括一個(gè)產(chǎn)生干涉的激光光源、接收干涉的背散射光的檢測(cè)器。通過(guò)對(duì)膜的干燥動(dòng)力學(xué)曲線的分析，可以得到有關(guān)膜形成過(guò)程中分子運(yùn)動(dòng)及重排等信息。

光源: 650 nm激光光源 (class II – 0.9 mW)

檢測(cè)器: (MS-DWS多散斑擴(kuò)散波光譜學(xué))

溫度：室溫（可選高溫版本，室溫-250℃）

測(cè)量厚度: 不高于500 μm 膜厚度

動(dòng)態(tài)干燥度分析儀利用多散斑擴(kuò)散波光譜學(xué)，在膜形成的過(guò)程中研究顆粒的運(yùn)動(dòng)，測(cè)量系統(tǒng)包括一個(gè)產(chǎn)生干涉的激光光源、接受干涉的背散射光的檢測(cè)器。干涉的圖像被稱作散斑圖像，由多像素檢測(cè)器檢測(cè)。

先進(jìn)的干涉光斑光譜成像技術(shù)可以記錄從粒子的從運(yùn)動(dòng)速度非常快（濕膜）到運(yùn)動(dòng)速度非常緩慢（干膜）的速度變化動(dòng)態(tài)。變化的動(dòng)力學(xué)過(guò)程可以通過(guò)流動(dòng)性因子對(duì)時(shí)間的變化關(guān)系曲線進(jìn)行量化。

- 可以測(cè)量不同基底：金屬、塑料、玻璃、木頭、混凝土、紙、薄膜…

- 可以測(cè)量膜的厚度 : 高達(dá)500 μm

- 數(shù)據(jù):

1. 成膜動(dòng)力學(xué)報(bào)告：流動(dòng)性因子對(duì)時(shí)間的變化關(guān)系曲線

2. 根據(jù)膜的類型（水劑涂料或其他），自動(dòng)計(jì)算特征點(diǎn)

3. 特征點(diǎn)的數(shù)據(jù)表摘要

4. 數(shù)據(jù)可以輸出到excel表格中

主要規(guī)格

檢測(cè)頭：

光源: 650 nm激光光源 (class II – 0.9 mW)

檢測(cè)器: (MS-DWS多散斑擴(kuò)散波光譜學(xué))

溫度：室溫（可選高溫版本，室溫-250℃）

測(cè)量平臺(tái):

防震平臺(tái)

測(cè)量厚度: 厚達(dá)500 μm 膜厚度

數(shù)據(jù)采集:

可以從秒到數(shù)天. *快可達(dá)30次采集/秒