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XDS TOPA 近紅外光譜分析儀品牌
瑞士萬通產(chǎn)地
瑞士樣本
暫無誤差率：
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-重現(xiàn)性：
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其他分散方式：
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儀器特性及優(yōu)勢
| ? XDS NIR 技術確保使用簡單和定標的無縫轉(zhuǎn)移 |
| ? 結實耐用的倉庫或工廠用分析儀 |
| ? 無需樣品制備，無需試劑，無任何廢棄物 |
| ? 面向集中數(shù)據(jù)庫管理的網(wǎng)絡分析儀 |
| ? 熱插拔模塊——幾分鐘內(nèi)即可完成更換，不會影響性能 |
儀器簡介
采用 XDS TOPA 近紅外光譜分析儀取代常規(guī)試驗，您可以大大縮短產(chǎn)品停留時間，使實驗室分析時間極小化。
XDS TOPA 近紅外光譜分析儀是特別針對水狀產(chǎn)品、透明液體、溶劑以及粘性樣品的實驗室監(jiān)測而設計的。XDS TOP 近紅外光譜分析儀非常適合用于中試過程應用和生產(chǎn)線的測量。
有了這種分析儀，可以很容易地使用一次性樣品瓶分析粘性樣品，縮短了清理時間。利用選配的樣品瓶加熱器模塊，該系統(tǒng)還能在數(shù)據(jù)分析前，提供無人值守的樣品加溫平衡（可高達 200 °C），提高了實驗室效率。
XDS NIR 技術不僅帶來了優(yōu)越的分析性能，加快了定標方法的研發(fā)，縮短了實施時間，保證了定標的無縫轉(zhuǎn)移。
使用先進、界面友好、具有聯(lián)網(wǎng)能力的 Vision? 軟件可以輕松實現(xiàn)鑒定、定性和定量等方法。只需按下一個按鍵或單擊鼠標就能完成準確的分析。
暫無數(shù)據(jù)！
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