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Xplore TEM品牌
牛津產(chǎn)地
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Xplore TEM是專門為120kV和200kV 透射電鏡（TEM）的常規(guī)應用而設計的元素分析系統(tǒng)。使用新的 80mm2 傳感器和聚合物薄窗口及低噪音電子元器件 , 為用戶提供快速和準確的元素表征。
0.1 - 0.4 srad的立體角
從Be到Cf的元素檢測
可在200,000cps的計數(shù)率下進行定量分析
SATW窗口為廣泛的應用提供了極大的便利性
暫無數(shù)據(jù)！
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