2009年5月26日，由中國顆粒學會顆粒測試專業委員會、中國計量科學研究院、北京粉體技術協會組織的“第二屆全國粒度儀量值比對結果總結大會”在北京龍泉賓館勝利召開。出席會議的有胡榮澤、劉希堯、周素紅、蔡小舒、宋金子、張文閣、周小龍等專家，以及參加比對的20多家儀器廠商和實驗室的代表。大會就三類粒度儀的比對結果進行了分析并向參加比對的相關單位頒發了證書，會議取得了圓滿成功。


與會專家及代表合影

    會上，專家組組長胡榮澤教授專門針對比對結果所采用的“穩健統計”進行了詳細的闡述，周小龍老師對比對中所采用的標準物質進行了介紹。讓大家對本次比對的統計有了詳細的了解。同時，本次大會還邀請了英國馬爾文儀器公司、珠海歐美克科技有限公司、美國貝克曼庫爾特公司3家儀器廠商就當前國內外粒度儀的現狀和發展做了精彩的報告。


胡榮澤教授就“穩健統計的有關問題”做講解


參與比對企業領取證書（一）


參與比對企業領取證書（二）


參與比對企業領取證書（三）

    本次粒度儀量值比對共分三類，其中：有15個實驗室、儀器生產廠家參加第一類超微范圍粒度儀量值比對；22個實驗室、儀器生產廠家參加第二類微米級激光粒度儀量值比對；19個實驗室、儀器生產廠家（23臺儀器）參加第三類液體顆粒計數器量值比對。比對結果令人滿意。


寧輝博士作“納米粒度儀粒度指標的驗證”的報告


張福根博士作“關于粒度儀的國內外最新進展”的報告


陳衛先生作“庫爾特儀的存在與發展”的報告

    目前，在我國使用的國內外粒度儀的種類較多，用戶遍及各個行業，這些粒度儀在納米/亞微米/微米級顆粒粒徑測量、粒徑分布測量、顆粒數量及濃度測量中扮演著重要的角色，被廣泛應用于醫療、電子、制藥、航空、電力、環境等行業中，其測量數據的可靠與否直接關系到科學研究、產品質量、計量仲裁等的發展和結果評價。

    通過此次比對活動的開展，各生產廠家在儀器測量準確性和理論研究等方面得到了提升，促進了我國粒度儀行業的發展，縮小了同國外儀器的差距。